A63.7081 Schottky Field Emission Gun Scanning Electros Microscope Pro FEG SEM ، 15x ~ 800000x
توضیحات محصول
| اسلحه انتشار میدانی Schottky A63.7081 میکروسکوپ الکترونی روبشی طرفدار FEG SEM | ||
| وضوح | 1nm @ 30KV (SE) ؛ 3nm @ 1KV (SE) ؛ 2.5nm@30KV (BSE) | |
| بزرگنمایی | 15x ~ 800000x | |
| اسلحه الکترونیکی | اسلحه الکترونیکی انتشار شاتکی | |
| جریان پرتو الکترونی | 10pA ~ 0.3μA | |
| سرعت بخشیدن به Voatage | 0 ~ 30 کیلوولت | |
| سیستم خلاuum | پمپ های 2 یونی ، پمپ مولکولی توربو ، پمپ مکانیکی | |
| ردیاب | SE: ردیاب الکترونی ثانویه با خلاuum بالا (با محافظت از ردیاب) | |
| BSE: آشکارساز پراکندگی برگشتی چهار بخش نیمه هادی | ||
| CCD | ||
| مرحله نمونه | مرحله موتور محور پنج محور | |
| محدوده سفر | X | 0 ~ 150 میلی متر |
| Y | 0 ~ 150 میلی متر | |
| Z | 0 ~ 60 میلی متر | |
| R | 360º | |
| T | -5º ~ 75º | |
| قطر حداکثر نمونه | 320 میلی متر | |
| تغییر | EBL ؛ STM ؛ AFM ؛ مرحله گرمایش ؛ مرحله Cryo ؛ مرحله کششی ؛ دستکاری کننده میکرو نانو ؛ دستگاه پوشش SEM + پوشش ؛ SEM + لیزر و غیره | |
| تجهیزات جانبی | ردیاب اشعه ایکس (EDS) ، EBSD ، CL ، WDS ، دستگاه پوشش و غیره | |
مزیت و موارد
| میکروسکوپ الکترونی روبشی (sem) برای مشاهده توپوگرافی سطح فلزات ، سرامیک ها ، نیمه هادی ها ، مواد معدنی ، زیست شناسی ، پلیمرها ، کامپوزیت ها و مواد یک بعدی ، دو بعدی و سه بعدی در مقیاس نانو مناسب است (تصویر الکترون ثانویه ، تصویر الکترونی پشتی). می توان از آن برای تجزیه و تحلیل نقطه ، خط و سطح اجزای ریز منطقه استفاده کرد. به طور گسترده ای در نفت ، زمین شناسی ، میدان معدنی ، الکترونیک ، میدان نیمه هادی ، پزشکی ، رشته زیست شناسی ، صنایع شیمیایی ، زمینه مواد پلیمری ، تحقیقات جنایی در مورد امنیت عمومی ، کشاورزی ، جنگلداری و سایر زمینه ها. |
اطلاعات شرکت
پیام خود را اینجا بنویسید و برای ما ارسال کنید
